瑞士Tesa测高仪

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一维测高仪二维测高仪

产品图片	产品名称/型号	产品简单介绍
	TESA-HITE测高仪 TESA-HITE 400/700	TESA-HITE 400/700采用增量式光栅尺,具有tesa专利技术在测量直径时自动寻找顶点.简单坚固的结构设计,时车间尺寸检测的理想测量设备电池供电.对于高度及阶梯尺寸/直径/中心距/槽宽等都能实现精密测量,具有杰出的性价比.
	TESA Hite Magna 400/700车间型测高仪 TESA Hite Magna 400/700	TESA Hite Magna 400/700测高仪是集TESA25年研发经验推出的极具性价比的一款，它必定成为车间的首选。 TESA Hite Magna 400/700适合于如内外长度直径, 阶梯尺寸, 高度, 深度, 和距离的测量.
	TESA-μHITE测高仪 00730049测高仪	紧凑的设计，包括测量平台，传感器按Abbe 原理同轴安装测量或相对于高度规轴线偏置测头。平面、平行面或圆柱面的几何体，其内尺寸、外尺寸、高度、深度、台阶及距离尺寸的长度测量。自动探测孔或轴的顶点。可存储“最大”、“最小值”以及“最大-最小值"之间的差值计算。系统通过不同的配置选择可以测量直线度、平面度、平行度或轴向和径向跳动等
	TESA MICRO-HITE100测高仪 00730048测高仪	便捷完美的测量平面、平行面和圆柱面几何体的内尺寸、外尺寸、高度、深度台阶等距离尺寸。自动搜索孔或轴的顶点，在动态探测过程中记录最大、最小值以及最大最小值之间的差值、可以测量直线度、平面度和跳动误差等。测量功能和控制面板同于TESA-µ HIT。
	TESA Hite plus M 系列自动型二维测高仪 TESA Hite plus M 400/700	TESA Hite plus M 400/700源于长期以来持续不断的技术创新，tesa推出全新的TESA Hite plus M 400和700拥有接触的性能价格比处处体现着tesa经历验证的专业计数
	TESA MICRO-HITE plus M系列自动型二维测高仪 TESA MICRO-HITE plus M 350 / 600 / 900	舒适简单的操作• 完全独立式的无绳设计。• 气垫设计可以轻松毫不费力的在平台上移动测高仪。• 测头以恒定的测力对工件进行快速、可靠的测量。• 通过微处理器控制的高可靠性的数据捕捉。• 通过计算机辅助精度(CAA) 对偏移误差自动进行自修正从而可以达到很高的精度。• 贯穿于测量操作过程中的有效的操作向导
	TESA MICRO-HITE系列二维测高仪 TESA MICRO-HITE350/600/900	◆可以用来进行平面、平行面和圆柱面几何体的内尺寸、外尺寸、高度、深度或距离尺寸测量。同时可以进行一维或二维的测量。◆自动搜索孔或轴的顶点，在动态探测中记录最大、最小值以及最大最小值之间的差值计算。◆TESA IG-13 数字式测头可以测量垂直度、直线度、平行度等偏差和跳动误差，并以ISO1101标准输出数据。

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